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LED灯具作为节能项目的重要手段,正得到越来越广泛的应用。而大型LED灯具同样有相对较大的发热量,散热结构的好坏影响着LED灯具的质量及寿命,红外热像仪通过检测LED灯具散热器表面的温度分布,帮助工程师改善散热设计,提高LED灯具的产品质量及寿命。为什么要对LED灯具进行散热由于LED的功率在不断提高,及空间具有一定局限性,LED灯具散热成了比较突出的问题,需要发更加专业的散热器才能在今后满足LED灯具对于散热的更高需求。
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提高关密度和可扩展性对发大型汽车发动机和航天HIL测试系统至关重要。”MikeDewey,directorofmarketingatMarvinTestSolutions:“总体而言,我们看到高密度系统正继续向像MACPanelSCOUT的无电缆界面转移。高密度关切换系统需要高密度的I/O,从电缆接口转移到无电缆接口以确保足够的性能并可靠的接口。客户要求的通道数越来越多,也就要求商寻找更小体积的继电器,以及识别更高密度的I/O连接,这对3U形式的PXI来说是一个特别的挑战。
电磁感应当两个电路之间有互感存在时,一个电路中电流的变化就会通过磁场耦合到另一个电路,这一现象称为电磁感应。变压器及线圈的漏磁、通电平行导线等。漏电流感应由于电子线路内部的元件支架、接线柱、印刷电路板、电容内部介质或外壳等绝缘 ,特别是传感器的应用环境湿度较大,绝缘体的绝缘电阻下降,导致漏电电流增加就会引起干扰。尤其当漏电流流入测量电路的输入级时,其影响就特别严重。射频干扰主要是大型动力设备的启动、操作停止的干扰和高次谐波干扰。
一个半导体气体传感器商采用的基于PXI的集成化测试解决方案,该方案可测试所需的准确性,适应非常大规模的现场计数,并且在低成本的情况下可匹配高性能半导体测试系统的整体吞吐量性能。MOX气体传感器介绍MOX气体传感器是作为多芯片模块(MCM)的微机电系统(微机电系统)器件。MCM的基本组成部分是微控制器ASIC,在晶圆片上预测试,以及传感器本身。这些组件被放置在一个共同的基板上,盖子被放置在组件上,有一个小的孔或网,允许气体进入传感器。
另外,晶体管也可能产生相似的爆裂噪声和闪烁噪声,其产生机理与电阻中微粒的不连续性相近,也与晶体管的掺杂程度有关。半导体器件产生的散粒噪声由于半导体PN结两端势垒区电压的变化引起累积在此区域的电荷数量改变,从而显现出电容效应。当外加正向电压升高时,N区的电子和P区的空穴向耗尽区运动,相当于对电容充电。当正向电压减小时,它又使电子和空穴远离耗尽区,相当于电容放电。当外加反向电压时,耗尽区的变化相反。当电流流经势垒区时,这种变化会引起流过势垒区的电流产生微小波动,从而产生电流噪声。
众所周知,在测量电阻时,四线制测试法往往比两线制测试法结果更。FlukeBT5系列的测试表笔就是采用了四线制测试的设计,但仅凭外观判断,不少工程师会误以为这是两线制测试的表笔,今天小福就带大家来揭秘FlukeBT5系列蓄电池内阻测试仪表笔暗藏的玄机~首先简单科普一下两线制测试和四线制测试的区别:两线制测试原理:如下图所示,此种连接方式即为典型的两线制测试。其中被测电阻为Rb,两根导线的馈线电阻分别为R1和R2,利用已知的I及V12,即可得到结果,但结果R=(R1+R2+Rb),包含了馈线电阻,阻值比实际偏大。