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otdr的测量原理光脉冲发生器产生的脉冲驱动半导体激光器而发出的测试光脉冲进入光纤沿途返回到入射端的光。就其物理原因包括两种：一种是由于光纤折射率的不匹配或不连续性而产生的菲涅尔反射；另一种是由于光纤芯折射率，微观的不均匀而引起的瑞利散射。瑞利散射光的强弱与通过该处的光功率成正比。而菲涅尔反射又与光纤的衰耗有直接关系，其强弱也就反映了光纤各点的衰耗大小。由于散射是向四面八方的，因此这些反射光总有一部分传输到输入端。
目前在测量仪器方面基本所有仪器界面所显示内容都是固定不可更改，即使大部分内容并不是客户所关心的，造成视觉混乱以及空间的“浪费”。为了解决这一问题，致远功率分析仪是如何 变身的呢-用户自定义界面，欲知后事如何，请看下节。功率分析仪在数值显示上有三种可选界面显示方式，所有项目、X（124）项目、用户自定义。所有项目在所有项目下，通过翻页可以查看所有的测试项内容，但每页所显示内容均不可更改，如下：PA8所有项目界面X项目该界面显示有6项目、12项目、24项目，该显示方式表示每页显示的测量项有x项，并且用户可以更改测试项内容，默认情况下每页显示不同单元的相同测试项，下图是24项目界面：项目界面以上两种显示界面都没能解决文章所提问题，别急。
简单地说，示波器的捕获模式用于控制如何从采样点中获取波形点。现在我们使用的数字示波器捕获的是波形的一系列样值，并对样值进行存储，存储限度是判断累计的样值能否绘出波形为止，随后数字示波器重构波形。而由于方式的不同，重构的信号波形也会有一定的差别。下面将介绍这四种捕获模式重构波形的异同。标准捕获模式对大多数波形来说，使用标准模式可以产生的显示效果。在一般情况下，如果您对示波器捕获波形的方式没有特殊要求时，捕获模式可以选择为ZDS40Plus示波器默认的捕获模式：标准捕获模式。
而基于成像光度测量灯具光强分布的研究由于更加复杂，精度难以提高，目前仍处于研究阶段。灯具的分布光度测量是灯具设计和照明设计中质量控制的重要环节，尤其是随着LED等新光源和新兴照明技术的发展，对灯具分布光度测量提出了新的挑战。因此我们根据目前发展状况及需求，进行基于成像光度法的LED光强分布测试的分布光度计研制。目前国内灯具市场产品质量良莠不齐，每年有大量新款灯具涌入市场。其实际照明效果的评估往往得不到有效评估。
尤其是在以下两种情况下，非常不建议采用两线制测试：测试导线过长，R1R2偏大，有时甚至会高出被测电阻，两线制测试极易导致结果错误；被测电阻Rb为低阻值时，馈线电阻的影响会比平时更大，也容易造成读数误差较大。蓄电池的内阻很小，2V电芯的典型内阻为.3mΩ，所以对于此类阻值的测量，需要采用更的测试方法。四线制测试原理四线制测试法即为尔文测试法。如下图所示，尔文连接有两个要求：对于每个测试点都有一条激励线和一条检测线,二者严格分，各自构成独立回路：激励回路用于测定流过Rb的电流I1，检测回路用于测定Rb两端的电压V34，因电压表的内部阻抗远远大于检测回路的馈线电阻R3和R4，因此流经电压表的电流I2几乎为零，所量到的电压V34也几乎是Rb本身的压降。
从以上测试结果可以看出，电压优先模式下，保证电压的输出波形质量，电流有可能会过冲；而在电流优先模式下，不管启动电流是毫安还是安培级，IT6100B都能很好地管理过冲，保证电流的输出波形 W）为高速高精度的可编程直流电源，满载上升 可达500us，分辨率可达0.1mV/0.01mA，输出波形优先模式可让电压或电流的上升波形高速且无过冲，在航天电源模块等高精度测试领域广泛应用。
用编程器不仅不能编程效率，反而出现了极高的 率品，更要命的是很多 率芯片已损坏，这不是赔了夫人又折吗（花钱编程器编坏芯片）？其实客户的咨询及反馈，也印证着我们编程器技术一路以来的发展及变革史，细节决定成败。通常，使用编程器编写芯片出现 品率，是有众多因数造成的，比如芯片批次质量波动、编程烧录房环境及人员习惯素质、夹具使用寿命、编程器老化、编程器时序的兼容性等原因。解决这些基本问题，一般可以通过加强人员培训，设备维护升级或者及时更新芯片时序算法就可解决，并且也达到了一定的效果。
